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光電/面板製程暨檢測設備
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全自動晶圓檢測設備 更多資訊

WP-MM3200

wafer chipping inspection
wafer bump inspection
wafer defect AOI
晶圓檢測
12"晶圓檢測
8"晶圓檢測
Marco 檢測
Micro 檢測
AOI
晶圓巨觀檢
晶圓微觀檢
wafer inspection
wafer AOI
wafer thinkness inspection
品牌廠商:

旭東機械工業股份有限公司

敘述: 應用範圍: 半導體晶圓封裝、測試等產業 半導體中段製程設備 .前段製程:ADI, AEI, ASI….etc .先進封裝:Wafer Thinning, Bumping process .適用晶圓:8”&12” 主要功能: 全自動晶圓巨觀(Macro)&微觀(Micro)檢測設備 可依客戶需求進行晶圓巨觀檢測如晶圓角崩缺、裂痕、晶圓刻號異常、邊緣殘錫..等,並輔以AI進行缺陷分類;同時能進行晶圓微觀檢測如關鍵尺寸、偏移..等。 可取代人工作業、提昇晶圓檢測速度及準確性,降低誤檢率,自動數據上報儲存分析,符合智能產線智動化之需求。 · 全自動化晶圓巨觀檢測/微觀檢量測 · AOI+AI軟體缺陷檢測及分類
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PCB三維形貌量測設備 更多資訊

PWI-5000

PCB量測
電路板量測
3D量測
2D量測
Dimple
PCB Trace
PAD ; 3D inspection
PCB Via inspection
Roughness inspection
品牌廠商:

旭東機械工業股份有限公司

敘述: 主要功能: PCB三維形貌量測設備 可依客戶需求進行PCB板尺寸的量測, 量測之基板規格(Substrate Specification)尺寸(Size)為Lx H= 496~510x 496~510mm,厚度 (Thickness)< 3mm, 包含以下量測項目(Measurement Item): Thickness (Cu), 厚度量測 Dimple, 凹陷孔深 Trace 銅箔 (width, space, thickness), (寬度、距離、厚度) PAD 錫墊 (diameter, thickness), Via 導通孔 (CD, depth), Roughness 表面粗糙深度 (Ra,Rz,Rq,Sa,Sz,Sq), Etching 蝕刻 (width, space, depth), …etc.
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三和技研半導體無塵室傳送機械手臂 更多資訊

SA Series

品牌廠商:

三和技研股份有限公司

敘述: 潔淨室使用的機器人晶圓傳送系統
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三和技研晶圓定位器 更多資訊

HAL Series

品牌廠商:

三和技研股份有限公司

敘述: 晶圓定位器可涵蓋多種晶圓尺寸及形狀,能提供精確的量測晶圓放置的方向
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三和技研 SMIF Indexer 更多資訊

SMIF Indexer

品牌廠商:

三和技研股份有限公司

敘述: 使用於8"晶圓晶舟 ( SMIF POD )傳送盒之開啟與關閉
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三和技研前端設備模組 更多資訊

DLR-F Series

品牌廠商:

三和技研股份有限公司

敘述: 三和技研 EFEM ( Equipment Front End Module )( 前端設備模組 ) 提供12吋製程設備自動化上下料之解決方案
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京碼厚膜雷射微蝕刻設備 更多資訊

客製化機種

精密雷射機台
厚膜
雷射微蝕刻
品牌廠商:

京碼股份有限公司

敘述: 此雷射微蝕刻設備可處理厚膜材料,製作圖案化基板。雷射微蝕刻厚膜製程會產生粉塵,粉塵會造成不良品,導致低良率。為解決上述問題,本機以專利技術來倒掛產品,使加工面朝下,讓粉塵因重力而自然落下,不會掉落於產品表面,後續無須清潔。此機整合特製倒掛高精密運動平台控制模組與雷射光學聚焦系統,在倒掛運動下進行精密雷射加工製造,落下的粉塵被吸塵負壓吸走,能夠高穩定性產出,達成高良率。
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旭東機械工業股份有限公司
旭東機械工業股份有限公司

官方網站: http://www.wisepioneer.com.tw/

公司地址: 臺中市后里區后科南路30號

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三和技研股份有限公司
三和技研股份有限公司

官方網站: http://www.sanwa-eng.com.tw/

公司地址: 新竹縣芎林鄉五龍村五和街228號

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京碼股份有限公司
京碼股份有限公司

官方網站: http://www.hortek.com.tw/

公司地址: 新竹科學園區新竹市東區研發二路13號1樓

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